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Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) y nitruro de aluminio oxidado (AlNO) depositadas por la técnica de erosión iónica
por Morales Rodríguez, Santos
Publicado 2008
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Tesis

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Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) y nitruro de aluminio oxidado (AlNO) depositadas por la técnica de erosión iónica
por Morales Rodríguez, Santos
Publicado 2008
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Tesis

3
Crecimiento direccional de películas delgadas de AlN de propiedades compatibles con heteroestructuras semiconductoras
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Artículo

4
Síntesis y caracterización de películas delgadas semiconductoras
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5
Evaluación de la calidad estructural de películas delgadas de AlN con adición de oxígeno
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Artículo

6
Caracterización de películas delgadas de AlN fabricadas por la técnica de erosión iónica II: propiedades ópticas y cálculos teóricos
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Artículo

7
Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) fabricadas por la técnica de erosión iónica
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