Saltar al contenido
VuFind
  • Bolsa de libros: 0 elementos (Completo)
    • English
    • Español
Avanzado
  • Evaluación de la calidad estru...
  • Citar
  • Imprimir
  • Exportar Registro
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Añadir a la Mochila Eliminar de la Mochila
  • Enlace Permanente
Imagen de Portada
Código QR

Evaluación de la calidad estructural de películas delgadas de AlN con adición de oxígeno

Detalles Bibliográficos
Autores principales: García Méndez, Manuel, Morales Rodríguez, Santos, Ruiz Tello, Javier
Formato: Artículo
Lenguaje:inglés
Publicado: 2011
Materias:
Q Ciencias en General
T Tecnología en General
Acceso en línea:http://eprints.uanl.mx/2420/1/EVALUACIONDELACALIDAD.pdf
  • Existencias
  • Descripción
  • Ejemplares similares
  • Vista Equipo
Descripción
Descripción no disponible.

Ejemplares similares

  • Caracterización de películas delgadas de AlN fabricadas por la técnica de erosión iónica II: propiedades ópticas y cálculos teóricos
    por: García Méndez, Manuel, et al.
    Publicado: (2009)
  • Crecimiento direccional de películas delgadas de AlN de propiedades compatibles con heteroestructuras semiconductoras
    por: García Méndez, Manuel, et al.
    Publicado: (2013)
  • Síntesis y caracterización de películas delgadas semiconductoras
    por: García Méndez, Manuel, et al.
    Publicado: (2013)
  • Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) fabricadas por la técnica de erosión iónica
    por: García Méndez, Manuel, et al.
    Publicado: (2008)
  • Caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio (AlN) y nitruro de aluminio oxidado (AlNO) depositadas por la técnica de erosión iónica
    por: Morales Rodríguez, Santos
    Publicado: (2008)

Opciones de búsqueda

  • Historial de Búsqueda
  • Búsqueda Avanzada

Buscar Más

  • Revisar el Catálogo
  • Lista Alfabética
  • Explorar canales
  • Reservas de Curso
  • Nuevos ejemplares

¿Necesita Ayuda?

  • Consejos de búsqueda
  • Consulte a un Bibliotecario
  • Preguntas Frecuentes

© 2020-2030 Portal de Recursos Digitales Abiertos (REDIAB) | Universidad Autónoma de Nuevo León