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Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos

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La mejora de las propiedades ópticas de un material, tales como la reflectancia, implica la compleja búsqueda de los parámetros experimentales óptimos en su proceso de obtención. La utilización de un software computacional para la simulación de estos procesos de crecimiento de capas delgadas represe...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ortega Cabrera, Jesús Javier
Formato: Tesis
Lenguaje:Spanish / Castilian
Publicado: 2021
Materias:
TA Ingeniería General y Civil
Acceso en línea:http://eprints.uanl.mx/21067/1/1080314873.pdf

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