Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos
La mejora de las propiedades ópticas de un material, tales como la reflectancia, implica la compleja búsqueda de los parámetros experimentales óptimos en su proceso de obtención. La utilización de un software computacional para la simulación de estos procesos de crecimiento de capas delgadas represe...
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Tesis |
| Lenguaje: | Spanish / Castilian |
| Publicado: |
2021
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://eprints.uanl.mx/21067/1/1080314873.pdf |