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Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos
Versión - Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos
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Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos
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Ortega Cabrera, Jesús Javier
Publicado 2021
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Institución
UANL
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Autor
Ortega Cabrera, Jesús Javier
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Lenguaje
Spanish / Castilian
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