Análisis microestructural y conductividad eléctrica del dieléctrico en conductor de Cu- Al modificado por envejecimiento artificial térmico

Se evaluó el efecto del calor sobre el recubrimiento dieléctrico en conductor de Cu-Al con dimensiones de10x10x1.58 mm mediante la conductividad eléctrica por el método de cuatro puntas y caracterización microestructuralpor medio de microscopias óptica y electrónica de barrido. Para analizar el efec...

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Main Authors:	Hernández, Francisco, Vargas , Benjamín, Estrella , Veronica, Aguilar , Miriam, Palacios, Nadxiel
Format:	Article
Language:	Spanish
Published:	Universidad Autónoma de Nuevo León 2019
Subjects:	conductividad eléctrica aleación Cu-Al envejecimiento artificial recubrimiento dielectrico microestructura
Online Access:	https://quimicahoy.uanl.mx/index.php/r/article/view/250