Análisis microestructural y conductividad eléctrica del dieléctrico en conductor de Cu- Al modificado por envejecimiento artificial térmico
Se evaluó el efecto del calor sobre el recubrimiento dieléctrico en conductor de Cu-Al con dimensiones de10x10x1.58 mm mediante la conductividad eléctrica por el método de cuatro puntas y caracterización microestructuralpor medio de microscopias óptica y electrónica de barrido. Para analizar el efec...
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| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | spa |
| Publicado: |
Universidad Autónoma de Nuevo León
2019
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| Acceso en línea: | https://quimicahoy.uanl.mx/index.php/r/article/view/250 |