Análisis microestructural y conductividad eléctrica del dieléctrico en conductor de Cu- Al modificado por envejecimiento artificial térmico

Se evaluó el efecto del calor sobre el recubrimiento dieléctrico en conductor de Cu-Al con dimensiones de10x10x1.58 mm mediante la conductividad eléctrica por el método de cuatro puntas y caracterización microestructuralpor medio de microscopias óptica y electrónica de barrido. Para analizar el efec...

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Detalles Bibliográficos

Autores principales:	Hernández, Francisco, Vargas , Benjamín, Estrella , Veronica, Aguilar , Miriam, Palacios, Nadxiel
Formato:	Artículo
Lenguaje:	español
Publicado:	Universidad Autónoma de Nuevo León 2019
Materias:	conductividad eléctrica aleación Cu-Al envejecimiento artificial recubrimiento dielectrico microestructura
Acceso en línea:	https://quimicahoy.uanl.mx/index.php/r/article/view/250