Análisis de ciclo de vida comparativo del uso de tecnologías de películas delgada de óxidos semiconductores para su aplicación en ventanas inteligentes en rascacielos: depósito, caracterización y evaluación del impacto ambiental
| Autor principal: | |
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| Formato: | Tesis |
| Lenguaje: | Spanish / Castilian |
| Publicado: |
2023
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://eprints.uanl.mx/25935/1/1080312495.pdf |