Caracterización de películas delgadas metálicas por medio de xps y cálculo de densidad de estados

Por medio de espectroscopia de fotoemisión de rayos X (XPS por sus siglas en inglés: “X-ray Photoelectron Spectroscopy”) se estudiaron las propiedades electrónicas de siliciuros de Co y Ni, así como con cálculos teóricos de densidad de estados y estructura de bandas. Los cálculos se llevaron a...

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Bibliographic Details

Main Author:	García Méndez, Manuel
Format:	Article
Language:	English
Published:	2006
Subjects:	T Tecnología en General
Online Access:	http://eprints.uanl.mx/1714/1/ARTICULOPELICULASDELGADAS.pdf