Caracterización de películas delgadas metálicas por medio de xps y cálculo de densidad de estados
Por medio de espectroscopia de fotoemisión de rayos X (XPS por sus siglas en inglés: “X-ray Photoelectron Spectroscopy”) se estudiaron las propiedades electrónicas de siliciuros de Co y Ni, así como con cálculos teóricos de densidad de estados y estructura de bandas. Los cálculos se llevaron a...
| Autor principal: | |
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| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
2006
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://eprints.uanl.mx/1714/1/ARTICULOPELICULASDELGADAS.pdf |