Caracterización estructural y química de Siliciuros de Co-Ni preparados ablación de láser pulsado: un estudio experimental y teórico
Por medio de la técnica de depósito de láser pulsado (PLD), se prepararon películas delgadas de Co- Ni/p-Si depositadas sobre sustratos de Si (100). Las muestras se sometieron a tratamientos térmicos en vacío para promover la formación de siliciuros. De los análisis realizados con XPS se detect...
| Autor principal: | |
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| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
2003
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://eprints.uanl.mx/1273/1/art_coni.pdf |