Resultados de búsqueda - ((wester OR estoeddooe) OR ((est OR testae) OR (meta OR (estea OR gestas)))) point~

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    Complicaciones y resultados funcionales entre la cirugía de tobillo tardía contra temprana por González Robles, Jaime Ramón

    Publicado 2018
    “…A estos pacientes se les dio el mismo cuidado post operatorio, se dieron de alta desde quirófano, con un vendaje de Jones, y se cito a las 2 semanas para descubrir el tobillo y retirar puntos si era posible y comenzar a movilizar, se cito a las 4 semanas para comenzar el apoyo, y a las 6 semanas para continuar su seguimiento, durante el transcurso de este seguimiento, se realizaron scores de EVA Y AOFAS. …”
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    Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos por Ortega Cabrera, Jesús Javier

    Publicado 2021
    “…Además, existiendo la necesidad en la industria automotriz, Varroc Lighting Systems© se ha dado a la tarea de mejorar la reflectancia del aluminizado en sus faros, por ello llevamos a cabo el desarrollo, mediante el software NASCAM®, el cual utiliza el método cinético de Monte Carlo para desarrollar un modelo del sistema físico a estudiar en una escala nanométrica, este nos permitirá analizar la influencia de las diferentes magnitudes que pueden afectar la reflectancia del material. …”
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    Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos por Ortega Cabrera, Jesús Javier

    Publicado 2021
    “…Además, existiendo la necesidad en la industria automotriz, Varroc Lighting Systems© se ha dado a la tarea de mejorar la reflectancia del aluminizado en sus faros, por ello llevamos a cabo el desarrollo, mediante el software NASCAM®, el cual utiliza el método cinético de Monte Carlo para desarrollar un modelo del sistema físico a estudiar en una escala nanométrica, este nos permitirá analizar la influencia de las diferentes magnitudes que pueden afectar la reflectancia del material. …”
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