Resultados de búsqueda - ((estoos OR tester) OR ((est OR estoadode) OR (best OR (esta OR (cestodo OR gtesteoo))))) point~

  1. 8481
  2. 8482
  3. 8483
  4. 8484
  5. 8485

    Complicaciones y resultados funcionales entre la cirugía de tobillo tardía contra temprana por González Robles, Jaime Ramón

    Publicado 2018
    “…A estos pacientes se les dio el mismo cuidado post operatorio, se dieron de alta desde quirófano, con un vendaje de Jones, y se cito a las 2 semanas para descubrir el tobillo y retirar puntos si era posible y comenzar a movilizar, se cito a las 4 semanas para comenzar el apoyo, y a las 6 semanas para continuar su seguimiento, durante el transcurso de este seguimiento, se realizaron scores de EVA Y AOFAS. …”
    Enlace del recurso
    Tesis
  6. 8486
  7. 8487
  8. 8488

    Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos por Ortega Cabrera, Jesús Javier

    Publicado 2021
    “…Además, existiendo la necesidad en la industria automotriz, Varroc Lighting Systems© se ha dado a la tarea de mejorar la reflectancia del aluminizado en sus faros, por ello llevamos a cabo el desarrollo, mediante el software NASCAM®, el cual utiliza el método cinético de Monte Carlo para desarrollar un modelo del sistema físico a estudiar en una escala nanométrica, este nos permitirá analizar la influencia de las diferentes magnitudes que pueden afectar la reflectancia del material. …”
    Enlace del recurso
    Tesis
  9. 8489

    Evaluación teórica de la reflectancia en capas delgadas de Al/SiO2 depositadas mediante sputtering para aplicaciones en recubrimientos ópticos por Ortega Cabrera, Jesús Javier

    Publicado 2021
    “…Además, existiendo la necesidad en la industria automotriz, Varroc Lighting Systems© se ha dado a la tarea de mejorar la reflectancia del aluminizado en sus faros, por ello llevamos a cabo el desarrollo, mediante el software NASCAM®, el cual utiliza el método cinético de Monte Carlo para desarrollar un modelo del sistema físico a estudiar en una escala nanométrica, este nos permitirá analizar la influencia de las diferentes magnitudes que pueden afectar la reflectancia del material. …”
    Enlace del recurso
    Tesis
  10. 8490
  11. 8491
  12. 8492
  13. 8493
  14. 8494
  15. 8495
  16. 8496
  17. 8497
  18. 8498
  19. 8499
  20. 8500

Herramientas de búsqueda: