Defectos superficiales de las limas Protaper Next, Hyflex CM y Vtaper 2H bajo microscopio electrónico de barrido
Autor principal: | |
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Formato: | Tesis |
Lenguaje: | Spanish / Castilian |
Publicado: |
2021
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Materias: | |
Acceso en línea: | http://eprints.uanl.mx/23783/1/1080328519.pdf |