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Aplicación de los rayos X en la industria como prueba no-destructiva

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: González Zambrano, Alfonso
Formato: Tesis
Lenguaje:Spanish / Castilian
Publicado: 1995
Materias:
QC Física
Acceso en línea:http://eprints.uanl.mx/6850/1/1080072463.PDF

Internet

http://eprints.uanl.mx/6850/1/1080072463.PDF

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