Localización de fallas en sistemas muestreados

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Tovar Luna, Alma Cristina
Formato: Tesis
Lenguaje:Spanish / Castilian
Publicado: 2011
Acceso en línea:http://eprints.uanl.mx/2882/1/1080211201.pdf
_version_ 1824368409332154368
author Tovar Luna, Alma Cristina
author_facet Tovar Luna, Alma Cristina
author_sort Tovar Luna, Alma Cristina
collection Repositorio Institucional
format Tesis
id eprints-2882
institution UANL
language Spanish / Castilian
publishDate 2011
record_format eprints
spelling eprints-28822017-02-08T14:31:53Z http://eprints.uanl.mx/2882/ Localización de fallas en sistemas muestreados Tovar Luna, Alma Cristina 2011 Tesis NonPeerReviewed text es cc_by_nc_nd http://eprints.uanl.mx/2882/1/1080211201.pdf http://eprints.uanl.mx/2882/1.haspreviewThumbnailVersion/1080211201.pdf Tovar Luna, Alma Cristina (2011) Localización de fallas en sistemas muestreados. Maestría thesis, Universidad Autónoma de Nuevo León.
spellingShingle Tovar Luna, Alma Cristina
Localización de fallas en sistemas muestreados
thumbnail https://rediab.uanl.mx/themes/sandal5/images/online.png
title Localización de fallas en sistemas muestreados
title_full Localización de fallas en sistemas muestreados
title_fullStr Localización de fallas en sistemas muestreados
title_full_unstemmed Localización de fallas en sistemas muestreados
title_short Localización de fallas en sistemas muestreados
title_sort localizacion de fallas en sistemas muestreados
url http://eprints.uanl.mx/2882/1/1080211201.pdf
work_keys_str_mv AT tovarlunaalmacristina localizaciondefallasensistemasmuestreados